Venturelli, Paulo Nicola, Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia - INMETRO, Brazil

• Cadernos de Prospecção Vol. 8 No. 3 (2015) - Propriedade Intelectual, Inovação e Desenvolvimento
  ANÁLISE DO POTENCIAL MERCADOLÓGICO DE NANOPARTÍCULAS DE PRATA DE ORIGEM BIOLÓGICA POR MAPEAMENTO DE TECNOLOGIAS E PRODUTOS EM DOCUMENTOS DE PATENTES
  Abstract  PDF (Português (Brasil))